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Nueva herramienta de análisis molecular
Sensibilidad para investigar materiales blandos con microscopía de fuerza atómica
La microscopía de fuerza atómica (AFM, en sus siglas en inglés), una técnica basada en la sonda táctil, proporciona una imagen en tres dimensiones a nanoescala de un material al deslizarse un brazo de la aguja por la superficie del material.

Redacción - Viernes, 23 de Abril de 2010 - Actualizado a las 00:00h.


El núcleo de carga de imágenes AFM es un voladizo con una punta afilada que se flexiona cuando se topa con ondulaciones en la superficie. El problema residía en que la fuerza necesaria para obtener imágenes hace que los convencionales voladizos deformen e incluso destrocen las células vivas.

Para resolver este inconveniente, Paul Ashby y Babak Sanii, investigadores de la Molecular Foundry, dependiente del Departamento de Energía de Estados Unidos, que se localiza a su vez en los laboratorios de Berkley, han desarrollado una herramienta que, combinada con un nuevo mecanismo de detección, resulta lo suficientemente sensible para investigar materiales blandos sin las limitaciones asociadas a otros voladizos. Se trata de ménsulas nanométricas cuyo suave toque puede ayudar a discernir el funcionamiento de células vivas y otros materiales blandos en su medio natural, el líquido.

En lugar de medir la deflexión del voladizo haciendo rebotar un láser, Ashby y Sanii colocan el voladizo en el foco de un rayo y detectan el patrón de luz resultante. El trabajo proporciona un punto de partida para la construcción de un microscopio atómico basado en nanocables que puede ser usado para estudiar las células biológicas y el modelo de componentes celulares.

No obstante, ambos autores esperan aprender más acerca de las integrinas, proteínas que se encuentran en la superficie de las células que median la adhesión.